NXP Semiconductors Scheda di valutazione traslatore di livello NVT4858-4557-EVB
La scheda di valutazione del traslatore di livello SD/SIM NVT4858-4557-EVB di NXP Semiconductors include un NVT4858/NVT4557 montato, basette di ingresso e di uscita, con un socket per scheda SD e un socket per scheda SIM. Ci sono quattro basette da 100 mil e in cui sono disponibili i collegamenti a tutti i pin di NVT4858 e NVT4557. È possibile accedere alla scheda SIM o alla scheda SD inserita nel socket direttamente dal controller host SD o dal controller SIM tramite le basette 100 mil sul lato dell'interfaccia host del traslatore di livello.
La scheda di valutazione NXP NVT4858-4557-EVB, facile da usare, è stata progettata come scheda indipendente che consente di valutare le prestazioni dell'NVT4858 o dell'NVT4557.
Caratteristiche
- Traslatore di livello a doppia tensione bidirezionale conforme a SD 3.0 con controllo di direzione automatico
- Host con livelli di segnale da 1,08 V a 1,98 V e scheda con livelli di segnale da 1,62 V a 3,6 V, non è necessario un segnale di controllo della direzione
- Il traslatore di livello SD supporta una velocità di clock fino a 208 MHz, SDR104
- Il dispositivo supporta le modalità SD 3.0 SDR104, SDR50, DDR50, SDR25, SDR12 e SD 2.0 ad alta velocità (50 MHz) e velocità predefinita (25 MHz)
- Il traslatore di livello SIM supporta una velocità di clock fino a 10 MHz
- SIM ad alta velocità di trasmissione dati
- Traslatore di livello a doppia tensione bidirezionale conforme allo standard SIM ISO-7816 con controllo di direzione automatico
- Host con livelli di segnale da 1,08 V a 1,98 V e scheda con livelli di segnale da 1,62 V a 3,6 V, non è necessario un segnale di controllo della direzione
- Resistori pull-up e pull-down integrati
- Non sono necessari resistori esterni
- Protezione integrata ESD 8 KV IEC 61000-4-2, livello 4
- Non sono necessari componenti di protezione ESD esterni
Applicazioni
- Fotocamere digitali
- Lettori di schede SD, MMC, Micro SD
- Smartphone
- Tablet
Contenuto del kit
- Scheda di valutazione assemblata e testata in un sacchetto antistatico
- Guida rapida
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Risorse aggiuntive
Diagramma a blocchi
Panoramica
Pubblicato: 2021-12-02
| Aggiornato: 2022-03-11