Nexperia Scheda di valutazione NEVB-NID1100UL
La scheda di valutazione NEVB-NID1100UL di Nexperia è uno strumento versatile progettato per facilitare il test e la valutazione del diodo ideale NID1100. Questa scheda PCB a due strati incorpora due diodi NID1100 e un transistor PMOS, consentendo agli utenti di esplorare le prestazioni del diodo in varie condizioni. La scheda Nexperia NEVB-NID1100UL supporta un intervallo di tensione in ingresso da 1,5 V a 5,5 V e può gestire una corrente di uscita continua fino a 1 A. La scheda presenta più ingressi di alimentazione, inclusi tre ingressi standard e due ingressi opzionali USB-C, offrendo flessibilità per diversi scenari di prova. La scheda PCB include anche i jumper per la selezione del caso d'uso e i pin di prova per un facile accesso a tutti i pin del dispositivo. Inoltre, offre capacità di test per corto circuito, rendendola uno strumento eccellente per una valutazione completa delle capacità del NID1100.
Caratteristiche
- PCB a2 strati dotato di due diodi ideali NID1100 e un transistor PMOS
- Portata della tensione di funzionamento in ingresso da 1,5 V a 5,5 V (VIN)
- Corrente di uscita continuo di 1 A
- Tre ingressi di alimentazione: VIN1, VIN2 e VIN3
- Due ingressi di alimentazione opzionali USB Type-C® per VIN1 e VIN2
- Accesso a tutti i pin del dispositivo
- Selezione del caso d'uso tramite i jumper
- Test di corto circuito
Applicazioni
- Sistemi Internet delle cose (IoT)
- Contatori del gas e intelligenti
- Rilevatori di CO
- Sistemi di alimentazione di riserva della batteria
- Dispositivi alimentati tramite USB
Posizioni dei jumper/connessioni di alimentazione
Diodo correlato
Nexperia Diodo ideale NID1100 a basso drop di tensione in avanti
Funziona su un intervallo di tensione in ingresso da 1,5 V a 5,5 V e supporti fino a 1 A di corrente continua.
Pubblicato: 2025-04-02
| Aggiornato: 2025-05-22