Schede di valutazione NAFE33352

Le schede di valutazione NAFE33352 di NXP Semiconductors sono progettate per la prova del NAFE33352, un front-end analogico universale di ingresso e uscita (AIO) analogico (AFE) configurabile tramite software che soddisfa i requisiti di misurazione e controllo di alta precisione delle applicazioni di livello industriale. L'architettura di sistema altamente integrata e innovativa del NAFE33352 di NXP Semiconductors include un convertitore digitale-analogico (DAC) di precisione a 14/16/18 bit e un convertitore analogico/digitale (ADC) a 16/24 bit, un riferimento di tensione a bassa deriva, buffer a bassa deriva di offset e amplificatori ad alta tensione e alta precisione con un circuito di protezione dell'ingresso 70 V per scenari EMC e di cablaggio errato, consentendo ingressi e uscite analogiche universali realmente configurabili tramite software.

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Qtà RoHS Prodotto
Tipo
Strumento per la valutazione di
Tensione di alimentazione di lavoro
NXP Semiconductors Strumenti di sviluppo CI per conversione dati Software Configurable Universal AIO-AFE Evaluation Board with LPC54S018EVB 4A magazzino
Min: 1
Mult.: 1

Evaluation Boards Analog Front End AFE33352 24 V
NXP Semiconductors Strumenti di sviluppo CI per conversione dati NAFE33352-EVB 1A magazzino
Min: 1
Mult.: 1

Evaluation Boards Analog Front-End NAFE33352