Texas Instruments Gate driver MOSFET IGBT/SiC UCC5870-Q1
Il gate driver IGBT/MOSFET SiC UCC5870-Q1 di Texas Instruments è un gate driver a canale singolo, isolato e altamente configurabile, ideale per la sicurezza funzionale, destinato a pilotare MOSFET SiC e IGBT ad alta potenza in applicazioni su veicoli EV/HEV. Protezioni con transistor di potenza come sovracorrente basata su resistore shunt, rilevamento di sovratemperatura e DEAT basato su NTC, tra cui arresto progressivo selezionabile o spegnimento a due livelli durante questi guasti. Per ridurre ulteriormente le dimensioni dell'applicazione, l'UCC5870-Q1 di Texas Instruments integra un morsetto Miller attivo da 4 A durante la commutazione e un pull-down del gate attivo mentre il driver non è alimentato. Un ADC a 10 bit integrato consente di monitorare fino a sei ingressi analogici e la temperatura del gate driver per una migliore gestione del sistema. Le funzioni di diagnostica e rilevamento sono integrate per semplificare la progettazione di sistemi conformi a ASIL-D. I parametri e le soglie per queste funzionalità sono configurabili utilizzando l'interfaccia SPI, che consente al dispositivo di essere utilizzato con quasi qualsiasi MOSFET SiC o IGBT.Caratteristiche
- Il driver di uscita diviso fornisce una corrente di picco di 15 A source e 15 A sink
- Forza del gate drive regolabile "al volo"
- Protezione Interlock e shoot-through con ritardo di propagazione di 150 ns(max.) e reiezione di impulso minima programmabile
- Supporta i corto circuiti attivi (ASC) sul lato primario e secondario
- Protezioni con transistor di potenza configurabili
- Protezione da corto circuiti basata su DESAT
- Protezione da corto circuiti e sovracorrente basata su resistore Shunt
- Protezione da sovratemperatura basata su NTC
- Arresto progressivo programmabile (STO) e spegnimento a due livelli (2LTOFF) durante i guasti del transistor di potenza
- Diagnostica integrata: documentazione disponibile per facilitare la progettazione di sistemi ISO26262 fino a ASIL-D
- Test automatico integrato (BIST) per comparatori di protezione
- Integrità del percorso di gate da IN+ a transistor
- Monitoraggio soglia transistor di potenza
- Monitoraggio clock interno
- Uscite di allarme di guasto (nFLT1) e avvertenza (nFLT2)
- Morsetto Miller attivo da 4 A integrato o unità esterna opzionale per transistor con morsetto Miller
- Controllo avanzato di blocco ad alta tensione
- Protezione da sottotensione e sovratensione di alimentazione interna ed esterna
- Pull-down di uscita attiva e uscite basse predefinite con bassa alimentazione o ingressi flottanti
- Rilevamento della temperatura di die del driver e protezione da sovratemperatura
- Immunità transitoria di modo comune (CMTI) minima di 100 kV/µs a VCM = 1000 V
- Riconfigurazione, verifica, supervisione e diagnosi dei dispositivi basati su SPI
- ADC a 10 bit integrato per il monitoraggio di temperatura, tensione e corrente del transistor di potenza
- Certificazioni
- Isolamento 3750 VRMS per 1 minuto per UL1577 (previsto)
Applicazioni
- IGBT e MOSFET SiC ad alta potenza
- Inverter di trazione per veicoli HEV/EV
- Moduli di alimentazione per veicoli HEV e EV
Schema semplificato
Pubblicato: 2021-01-12
| Aggiornato: 2025-03-06
