Texas Instruments Gate driver MOSFET IGBT/SiC UCC5870-Q1

Il gate driver IGBT/MOSFET SiC UCC5870-Q1 di Texas Instruments è un gate driver a canale singolo, isolato e altamente configurabile, ideale per la sicurezza funzionale, destinato a pilotare MOSFET SiC e IGBT ad alta potenza in applicazioni su veicoli EV/HEV. Protezioni con transistor di potenza come sovracorrente basata su resistore shunt, rilevamento di sovratemperatura e DEAT basato su NTC, tra cui arresto progressivo selezionabile o spegnimento a due livelli durante questi guasti. Per ridurre ulteriormente le dimensioni dell'applicazione, l'UCC5870-Q1 di Texas Instruments integra un morsetto Miller attivo da 4 A durante la commutazione e un pull-down del gate attivo mentre il driver non è alimentato. Un ADC a 10 bit integrato consente di monitorare fino a sei ingressi analogici e la temperatura del gate driver per una migliore gestione del sistema. Le funzioni di diagnostica e rilevamento sono integrate per semplificare la progettazione di sistemi conformi a ASIL-D. I parametri e le soglie per queste funzionalità sono configurabili utilizzando l'interfaccia SPI, che consente al dispositivo di essere utilizzato con quasi qualsiasi MOSFET SiC o IGBT.

Caratteristiche

  • Il driver di uscita diviso fornisce una corrente di picco di 15 A source e 15 A sink
  • Forza del gate drive regolabile "al volo"
  • Protezione Interlock e shoot-through con ritardo di propagazione di 150 ns(max.) e reiezione di impulso minima programmabile
  • Supporta i corto circuiti attivi (ASC) sul lato primario e secondario
  • Protezioni con transistor di potenza configurabili
    • Protezione da corto circuiti basata su DESAT
    • Protezione da corto circuiti e sovracorrente basata su resistore Shunt
    • Protezione da sovratemperatura basata su NTC
    • Arresto progressivo programmabile (STO) e spegnimento a due livelli (2LTOFF) durante i guasti del transistor di potenza
  • Diagnostica integrata: documentazione disponibile per facilitare la progettazione di sistemi ISO26262 fino a ASIL-D
    • Test automatico integrato (BIST) per comparatori di protezione
    • Integrità del percorso di gate da IN+ a transistor
    • Monitoraggio soglia transistor di potenza
    • Monitoraggio clock interno
    • Uscite di allarme di guasto (nFLT1) e avvertenza (nFLT2)
  • Morsetto Miller attivo da 4 A integrato o unità esterna opzionale per transistor con morsetto Miller
  • Controllo avanzato di blocco ad alta tensione
  • Protezione da sottotensione e sovratensione di alimentazione interna ed esterna
  • Pull-down di uscita attiva e uscite basse predefinite con bassa alimentazione o ingressi flottanti
  • Rilevamento della temperatura di die del driver e protezione da sovratemperatura
  • Immunità transitoria di modo comune (CMTI) minima di 100 kV/µs a VCM = 1000 V
  • Riconfigurazione, verifica, supervisione e diagnosi dei dispositivi basati su SPI
  • ADC a 10 bit integrato per il monitoraggio di temperatura, tensione e corrente del transistor di potenza
  • Certificazioni
    • Isolamento 3750 VRMS per 1 minuto per UL1577 (previsto)

Applicazioni

  • IGBT e MOSFET SiC ad alta potenza
  • Inverter di trazione per veicoli HEV/EV
  • Moduli di alimentazione per veicoli HEV e EV

Schema semplificato

Schema - Texas Instruments Gate driver MOSFET IGBT/SiC UCC5870-Q1
Pubblicato: 2021-01-12 | Aggiornato: 2025-03-06