Texas Instruments Sistema di acquisizione dati (DAQ) a 8 canali ADS981x
Il sistema di acquisizione dati (DAQ) a 8 canali ADS981x di Texas Instruments si basa su un convertitore analogico-digitale (ADC) doppio con registro ad approssimazioni successive (SAR) a 18 bit e campionamento simultaneo. L'ADS981x dispone di un front-end analogico completo per ogni canale, con un circuito di protezione del morsetto di ingresso. Dispone anche di un amplificatore di guadagno programmabile (PGA) e di un'impedenza di ingresso da 1 MΩ con opzioni di larghezza di banda selezionabili dall'utente. L'alta impedenza di ingresso consente il collegamento diretto con trasformatori e sensori, eliminando così la necessità di circuiti di pilotaggio esterni. L'ADS981x può accettare ingressi unipolari o bipolari fino a una tensione di modo comune di ±12 V.Il dispositivo dispone anche di un riferimento di 4,096 V per l'ADC e di un'uscita di riferimento di 2,5 V da utilizzare con circuiti esterni. Un'interfaccia digitale che supporta il funzionamento da 1,2 V a 1,8 V consente di utilizzare l'ADS981x di Texas Instruments senza traslatori di livello di tensione esterni.
Caratteristiche
- ADC a 8 canali, 18 bit con front-end analogico
- Doppio campionamento simultaneo: 4 × 1 canali
- Front-end di impedenza di ingresso costante 1 MΩ
- Intervalli di ingresso analogico programmabili
- ±12 V ±10 V, , , , e ±7 V ±5 V ±3,5 V ±2,5 V
- Ingressi single-ended e differenziali
- Gamma di tensione di modo comune di ±12 V
- Protezione da sovratensione in ingresso fino a ±18 V
- Larghezza di banda dell'ingresso analogico selezionabile dall'utente
- 21 kHz e 400 kHz
- Riferimenti di precisione integrati a bassa deriva
- Riferimento ADC: 4,096 V
- Uscita di riferimento per i circuiti esterni di 2,5 V
- Eccellenti prestazioni CA e CC a pieno regime
- DNL: ±0,3 LSB, INL: ±1,5 LSB
- SNR: 92,2 dB, THD: -112dB
- Alimentazione:
- Analogico e digitale: 5 V e 1,8 V
- Interfaccia digitale: 1,2 V a 1,8 V
- Intervallo di temperatura da -40°C a +125 °C
Applicazioni
- Test sui semiconduttori
- Test della batteria
- Acquisizione dati (DAQ)
Diagramma a blocchi funzionali
Pubblicato: 2024-03-12
| Aggiornato: 2024-03-21
