Texas Instruments Modulo di valutazione del gate driver TPS7H6013EVM-CVAL
Il modulo di valutazione (EVM) del gate driver TPS7H6013EVM-CVAL di Texas Instruments aiuta gli utenti a valutare il dispositivo TPS7H6013-SP. Il TPS7H6013-SP è un driver per gate GaN a semiponte QMLV 60 V resistente alle radiazioni. La scheda accetta un ingresso fino a 45 V e consente agli utenti di testare l'affidabilità del TPS7H6013-SP pilotando un FET GaN. Per impostazione predefinita, il modulo di valutazione è configurato per funzionare con la modalità PWM del TPS7H6013-SPdi Texas Instruments, che accetta l'ingresso di un segnale di commutazione e genera internamente un segnale complementare.
Caratteristiche
- Protezione di interblocco dell'ingresso selezionabile in modalità ingresso indipendente
- Uscite divise per tempi di accensione e spegnimento regolabili
- 25 ns di ritardo di propagazione tipico in modalità ingresso indipendente
- 1,5 A di corrente di picco della sorgente, 3 A di corrente di picco del sink
Applicazioni
- Carico utile comunicazioni
- Comando e gestione dei dati
- Sistema di alimentazione elettrica satellitare
- Punto di alimentazione del carico del satellite spaziale per i rail di tensione del core FPGA
Layout della scheda
EVM associati
Texas Instruments Moduli di valutazione TPS7H60x5EVM
Progettato per dimostrare in modo rapido e semplice i driver dei gate di TPS7H60x5-SEP.
Texas Instruments Modulo di valutazione TPS7H6003EVM-CVAL
Accetta fino a 150 V di ingresso per testare l'affidabilità del TPS7H6003-SP azionando l'EPC2307.
Texas Instruments Modulo di valutazione gate driver TPS7H6023EVM-CVAL
Testa e valuta il driver GaN a semiponte da 22 V resistente alle radiazioni TPS7H6023-SP.
Pubblicato: 2024-04-15
| Aggiornato: 2024-09-12