Texas Instruments Modulo di valutazione (EVM) DMD DLP780NEEVM
Il modulo di valutazione (EVM) DMD DLP780NEEVM di Texas Instruments può accelerare i tempi di prototipazione di un sistema DLP 0,78 -inch 1080p, se abbinato a DLPC4430EVM. Il dispositivo DLP780NEEVM di Texas Instruments offre una soluzione per valutare il dispositivo digitale a microspecchi (DMD) 0,78 -inch 1080p, che è progettato per essere abbinato a DLPC4430EVM e può visualizzare SPLASH, modelli di test e video dalla sorgente HDMI sul DMD.
Caratteristiche
- Risoluzione del display 1080p (1920x1080)
- Microspecchi a passo 9,0 µm
- Inclinazione dei microspecchi ±14,5 ° (rispetto allo stato piano)
- Illuminazione angolare
- 2 bus dei dati di ingresso LVDS
Layout della scheda
Strumento di sviluppo correlato
Texas Instruments Modulo di valutazione (EVM) del controller DLPC4430EVM
In combinazione con altri EVM, può accelerare i tempi di prototipazione dei vari sistemi DL .
Pubblicato: 2024-02-19
| Aggiornato: 2024-02-29