Texas Instruments Modulo di valutazione (EVM) DMD DLP670REEVM
Il modulo di valutazione (EVM) DMD DLP670REEVM di Texas Instruments può accelerare i tempi di prototipazione di un sistema DLP 0,67 -inch WUXGA, se abbinato a DLPC4430EVM. Il dispositivo DLP670REEVM di Texas Instruments offre una soluzione per valutare il dispositivo digitale a microspecchi (DMD) WUXGA 0,67 -inch, che è progettato per accoppiarsi con DLPC4430EVM e può visualizzare SPLASH, modelli di test e video dalla sorgente HDMI sul DMD.
Caratteristiche
- Risoluzione del display WUXGA (1920x1200)
- Microspecchi a passo 7,56 µm
- Inclinazione dei microspecchi ±12 ° (rispetto allo stato piano)
- Illuminazione angolare
- 2 bus dei dati di ingresso LVDS
Layout della scheda
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Strumento di sviluppo correlato
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In combinazione con altri EVM, può accelerare i tempi di prototipazione dei vari sistemi DL .
Pubblicato: 2024-02-19
| Aggiornato: 2024-02-29