Texas Instruments Modulo di valutazione DMD (EVM) DLP470NEEVM
Il modulo di valutazione DMD (EVM) DLP470NEEVM di Texas Instruments può accelerare i tempi di prototipazione di un sistema DLP da 0,47" 1080p se combinato con DLPC4430EVM. Il DLP470NEEVM di Texas Instruments fornisce una soluzione per valutare il dispositivo microspecchio digitale (DMD) da 0,47" 1080p, progettato per essere accoppiato con DLPC4430EVM e può visualizzare SPLASH, modelli di test e video dalla sorgente HDMI sul DMD.
Caratteristiche
- Risoluzione del display 1080p (1.920 × 1.080)
- Passo microspecchi: 5,4 µm
- Inclinazione del microspecchio ±17 ° (rispetto allo stato piatto)
- Illuminazione inferiore
- 2 bus dei dati di ingresso LVDS
Layout della scheda
Strumento di sviluppo correlato
Texas Instruments Modulo di valutazione (EVM) del controller DLPC4430EVM
In combinazione con altri EVM, può accelerare i tempi di prototipazione dei vari sistemi DL .
Pubblicato: 2024-02-16
| Aggiornato: 2024-02-20