Texas Instruments Modulo di valutazione del sensore mmWave AWR6843AOPEVM
Il modulo di valutazione del sensore mmWave (EVM) AWR6843AOPEVM di Texas Instruments è una piattaforma di valutazione del sensore mmWave automobilistico da 60 GHz di facile utilizzo per la valutazione del AWR6843AOP. La piattaforma è dotata di tecnologia AoP integrata, a corto raggio e con ampio campo visivo (FoV) che consente la connettività diretta alla piattaforma di schede carrier con sensori mmWave (MMWAVEICBOOST) e per l'uso autonomo. Il modulo di valutazione abilita l'accesso ai dati point-cloud attraverso un'interfaccia USB e ai dati grezzi del convertitore analogico/digitale (ADC) attraverso un connettore ad alta velocità a 60 pin.
AWR6843AOPEVM di Texas Instruments consente la valutazione di applicazioni di rilevamento in cabina, come il rilevamento della presenza di bambini e il monitoraggio degli occupanti. Questo kit è supportato da strumenti e software mmWave standard, tra cui mmWave studio (MMWAVE-STUDIO) e il kit di sviluppo software mmWave (MMWAVE-SDK). AWR6843AOPEVM abbinato a MMWAVEICBOOST può interfacciarsi con l'ecosistema MCU LaunchPad™.
Caratteristiche
- Sensore mmWave da 60 GHz a 64 GHz
- Integrato sul package, quattro antenne di ricezione (RX), tre di trasmissione (TX), ampio FoV
- Interfaccia diretta con MMWAVEICBOOST
- Supporta l'interfaccia ad alta velocità a 60 pin per l'interfaccia di controllo dell'host
- Modalità indipendente per l'implementazione e il test del fattore di forma
- Cavo USB singolo per alimentazione e dati
Contenuto del kit
- Modulo di valutazione AWR6843AOPEVM
- Supporto di montaggio
- Rondelle lisce
- Cavo da USB A maschio a Micro B maschio da 3 piedi
- Viti a testa tonda
- Guida per l'avvio rapido
- Scheda di garanzia (foglio di esclusione della responsabilità)
Risorse aggiuntive
- mmWave Studio
- Kit di sviluppo software mmWave (SDK)
- Disegno schematico xWR6843AOPEVM, disegno di assemblaggio e distinta materiali (Rev. A)
- File di progettazione Altium xWR6843AOPEVM, confezione di fabbricazione & assemblaggio (Rev. F)
- Risorse dei sensori
- Tecnologie di rilevamento
- White Paper: rilevare il mondo in modo più accurato
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