STMicroelectronics Scheda di breakout SATEL-VL53L4ED
La scheda di Breakout SATEL-VL53L4ED di STMicroelectronics integra il sensore di prossimità ad alta precisione del tempo di volo (ToF) VL53L4ED con capacità di temperatura estesa. Questa scheda offre una gamma di prossimità ad alte prestazioni, indipendentemente dalle dimensioni e dalla riflettanza dell’obiettivo. La scheda di breakout SATEL-VL53L4ED presenta una linearità a breve distanza fino a 1 mm e una portata fino a 400 mm con illuminazione 100.000 lux. Questa scheda opera nell’intervallo di temperatura da -40°C a 105°C ed è compatibile con la scheda di espansione X-NUCLEO-53L4A3. Il package SATEL-VL53L4ED include due schede breakout. La sezione PCB contenente il modulo VL53L4ED è perforata, consentendo agli sviluppatori di scollegare il mini-PCB per l’uso in applicazioni di alimentazione da 3,3 V tramite fili liberi.
Caratteristiche
- Sensore di prossimità ad alta precisione Time-of-Flight (ToF) VL53L4ED con capacità di temperatura estesa
- Intervallo di prossimità ad alte prestazioni, indipendente dalle dimensioni e dalla riflettanza dell’obiettivo
- Scheda divisibile utilizzabile come scheda breakout mini-PCB, facile da integrare nel dispositivo del cliente
- Due schede di breakout disponibili nel package SATEL-VL53L4ED
- Compatibile con la scheda di espansione X-NUCLEO-53L4A3
- Conforme a RoHS (Ecopack2)
Specifiche
- Da 0 mm a 1.300 mm con campo visivo completo
- Intervallo di temperatura effettivo del sensore da -40 °C a 105 °C
- Fino a 400 mm con illuminazione 100.000 lux
- Linearità a breve distanza 1 mm
Schede di Breakout SATEL-VL53L4ED collegate alla scheda di espansione X-NUCLEO-53L4A3
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STMicroelectronics Standard Products
A broad range of drop-in replacements for general-purpose analog ICs, discretes, and serial EEPROMs.
Pubblicato: 2024-01-31
| Aggiornato: 2024-04-11