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NXP Semiconductors Scheda di valutazione RD33774PDSTEVB

La scheda di valutazione RD33774PDSTEVB di NXP Semiconductors  è dotata di un circuito integrato (IC) di controllo delle celle della batteria MC33774ATP che monitora fino a 18 celle. Questa scheda di valutazione RD33774PDSTEVB offre fino a 200 mA di equilibratura passiva integrata di picco. La scheda di valutazione RD33774PDSTEVB è ideale per la prototipazione rapida hardware e software di un sistema di gestione della batteria ad alta tensione (HVBMS). Questa scheda di valutazione viene utilizzata  con un driver ricetrasmettitore trasformatore di livello fisico (MC33664) per convertire i bit di dati SPI dell'MCU in informazioni di bit a impulsi  e viceversa. Le applicazioni tipiche includono dispositivi automobilistici e industriali.

Caratteristiche

  • Un controller di celle per batteria MC33774ATP che monitora fino a 18 celle.
  • Connessione daisy-chain dei dispositivi
  • Indicatore a LED per modalità di funzionamento
  • Resistori di bilanciamento cella (22 Ω per singola cella)
  • Ingresso di rilevamento cella con filtro RC
  • EEPROM (connessa al CI con interfaccia I2C) per memorizzare i parametri di calibrazione definiti dall’utente

Applicazioni

  • Settore automotive
    • Sistemi di gestione della batteria (BMS)
  • Dispositivi industriali

Schema a blocchi

Schema a blocchi - NXP Semiconductors Scheda di valutazione RD33774PDSTEVB

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Pubblicato: 2024-05-09 | Aggiornato: 2024-05-24