Infineon Technologies Scheda di valutazione EVAL-1ED3890Mx12M
La scheda di valutazione EVAL-1ED3890Mx12M di Infineon Technologies è progettata per valutare le funzionalità e le capacità dei CI gate driver 1ED3890MC12M o 1ED3890MU12M. La famiglia di prodotti 1ED38x0Mc12M (X3 Digital) è costituita da CI gate driver a canale singolo isolati galvanicamente in un piccolo package PG-DSO-16 con una grande dispersione e una distanza di 8 mm. I CI gate driver forniscono una corrente di uscita di picco tipica di 3 A, 6 A e 9 A.
La scheda di valutazione EVAL-1ED3890Mx12M di Infineon è fornita con spazi transistor TO-247 non popolati. La scheda ha dimensioni di 85 mm × 85 mm × 15 mm3 senza alcun interruttore di alimentazione assemblato.
Caratteristiche
- 40 V di tensione di uscita massima assoluta
- Capacità di corrente di gate di generazione e assorbimento tipica di ±9 A
- Uscite sorgente e dissipatore separate per un pilotaggio ottimizzato del gate
- Morsetto regolabile/driver morsetto/pin ADC
- Bus I2C per la regolazione dei parametri, feedback di stato e guasti, misurazioni dell'ADC e monitoraggio delle condizioni
- Due circuiti di rilevazione VCE(sat) precisi (DESAT2) con uscita di guasto, tempo di inattività del bordo di entrata regolabile, tensioni di trigger regolabili individualmente, tempi di filtrazione
- Spegnimento a due livelli (TLTO) con pendenze regolabili, tempo di plateau e livello di plateau
- Spegnimento selezionabile: spegnimento duro e spegnimento a due livelli
- Spegnimento progressivo regolabile dopo il rilevamento della desaturazione
- Filtro di ingresso regolabile
- Protezione da blocco sottotensione Hardware (UVLO) con isteresi per lato di ingresso
- UVLO hardware regolabile con isteresi per IGBT e MOSFET su entrambe le guide VCC2 e VEE2 con arresto attivo
- UVLO software regolabile per un monitoraggio accurato della tensione di alimentazione su entrambe le guide VCC2 e VEE2
- Misurazione ADC di parametri interni: tensioni di alimentazione e temperatura interna
- Segnalazione dello stato dei pin tramite I2C e guasto
- Contatori interni per eventi DESAT o UVLO
- Funzionamento del gate driver ad alta temperatura ambiente fino a 125 °C con arresto per sovratemperatura a 160 °C
(± 10 °C) - Corrispondenza di ritardo di propagazione CI-CI stretto (TPDD,max = 30 ns)
- Protezione da blocco di sottotensione con isteresi per lato di ingresso e uscita con arresto attivo
- Alta immunità ai transienti di modo comune CMTI = 200 kV/μs
- Package a passo fine DSO-16 di dimensioni ridotte con grande distanza di passo (>8 mm)
- Certificazione di sicurezza dei gate driver:
- Riconosciuti UL 1577 (previsti) con VISO, test = 6840 V (rms) per 1 s, VISO = 5700 V (rms) per 60 s
- Approvazione IEC 60747-17/VDE 0884-11 (programmata) con VIORM = 1,767 kv (picco, rinforzato)
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