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TPD3S716-Q1EVM

Name: Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TPD3S716-Q1EVM
Price: 83.85 EUR
Availability: InStock

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N. Mouser:

595-TPD3S716-Q1EVM

N. produttore:

TPD3S716-Q1EVM

Produttore:

Texas Instruments

Descrizione:

Strumenti di sviluppo CI di gestione alimentazione TPD3S716-Q1EVM

Scheda dati:

TPD3S716-Q1EVM Scheda dati

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Maggiori informazioni su Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM

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Attributo del prodotto	Valore dell'attributo	Seleziona attributo
Produttore:	Texas Instruments
Categoria prodotto:	Strumenti di sviluppo CI di gestione alimentazione
RoHS::	N
Prodotto:	Evaluation Modules
Tipo:	Power Switch
Tensione di ingresso:	3.3 V, 5 V
Strumento per la valutazione di:	TPD3S716-Q1
Serie:	TPD3S716
Marchio:	Texas Instruments
Paese di assemblaggio:	Not Available
Paese di diffusione:	Not Available
Paese di origine:	US
Tipo di interfaccia:	USB
Temperatura di lavoro massima:	+ 125 C
Temperatura di lavoro minima:	- 40 C
Tipo di prodotto:	Power Management IC Development Tools
Qualifica:	AEC-Q100
Quantità colli di fabbrica:	1
Sottocategoria:	Development Tools

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Scheda dati

TPD3S716-Q1EVM Scheda dati

TARIC:: 8473302000
CNHTS:: 8473309000
USHTS:: 8473301180
MXHTS:: 8473300499
ECCN:: EAR99

TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed to help evaluate the TPD3S716-Q1. The TPD3S716-Q1 is a USB 2.0 interface protection with adjustable current limit and short-to-battery protection. Each evaluation module contains four TPD3S716-Q1 devices. One TPD3S716-Q1 (U1) is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 and USB2) for capturing system-level tests. One TPD3S716-Q1 (U2) is configured with four SMA (S1–S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. One TPD3S716-Q1 (U3) is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. One Texas Instruments TPD3S716-Q1 (U4) is pinned out for device-level tests.