Analog Devices Inc. Modulo di misurazione dell'analizzatore di impedenza ADMX2001B
Il modulo di misurazione dell'analizzatore di impedenza di precisione ADMX2001B di Analog Devices Inc. semplifica lo sviluppo di sistemi di misurazione dell'impedenza o può essere utilizzato per migliorare le capacità delle piattaforme di prova esistenti. Utilizzando algoritmi di elaborazione e di segnale misto ad alte prestazioni, ADMX2001B può misurare variazioni in capacità elettrica anche di soli 0,1 fF e valori in resistenza fino a 1 GΩ spesso richiesti a prova semiconduttore dispositivi componenti elettronici e sensori. Inoltre, gli algoritmi di misurazione integrati consentono all'ADMX2001B di Analog Devices Inc. di fornire risultati di misurazione di impedenza o ammettenza complessa completamente calibrati in vari formati, incluse le combinazioni in parallelo e in serie di resistenza, capacità elettrica e induttanza.
Caratteristiche
- Misurazioni di impedenza complesse da 0,2 Hz a 10 MHz
- Throughput elevato
- Tempo di misurazione 2,7 ms
- Precisione relativa di base 0,05%
- Ampio intervallo di misurazione
- Resistenza da 100 μΩ a 1 GΩ
- Capacità da 100 aF a 10 F
- Induttanza da 10 pH a 100 H
- Segnale di prova programmabile
- Regolazione dell’ampiezza a 16 bit fino a 2,4 V
- Risoluzione di frequenza di 0,2 Hz
- Impostazione di polarizzazione CC a 16 bit fino a ±2,4 V
- Misurazioni della resistenza CC
- 18 formati di misurazione dell’impedenza per C, R, L, Z e Y
- Scansione automatica multi-punto e parametrica
- Funzioni di compensazione di calibrazione e installazione
- Routine di calibrazione automatizzate per la tracciabilità delle misurazioni
- Archiviazione del coefficiente di calibrazione nella memoria non volatile
- La compensazione elimina l’effetto dei fenomeni parassiti
Applicazioni
- Apparecchiature di prova automatizzate
- Caratterizzazione dei semiconduttori
- Test di accettazione wafer
- Spettroscopia di impedenza elettrica
- Analisi di rete di impedenza
- Test batterie
Layout scheda
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Pubblicato: 2023-12-06
| Aggiornato: 2025-03-04